環境及び信頼性試験のために，試験基板に部品をはんだ付けする必要がある場合，代表的なはんだ付け 工程の条件を適用しなければならない。 耐候試験を実施する前に，フラックス残さを取り除くことが適切かどうかを考慮することが望ましい。 1．はんだ付け部の信頼性 「製品の長期使用時に故障が生じる過程では、物理的，化学的要因で複合ストレスが、 順列的もしくは同時に進み、劣化が製品の耐力を超えた時点で故障に至る」とされる。 はんだ耐熱性試験 信頼性試験の一覧は こちらからご覧ください。 特徴 ・実装工程における電子部品が受ける熱ストレスの影響を評価します。 ・ベーク、吸湿の前処理を行い保管状態を再現、リフロー実施後、剥離やクラックの発生有無を確認します。 適用例 ・各種民生、車載向けなどの電子部品 仕様 ・加熱方式（温度調整範囲） 上部熱風ヒータ：最大350℃ 下部遠赤ヒータ：最大600℃ ・参照規格 JEDEC J-STD-020、JESD22-A113、JEITA ED4701/301A 料金 試験条件により変動します。 別途ご相談ください。 速報納期 都度ご相談ください。 必要情報 目的/測定内容（適用試験規格など） 試料情報 (1)数量・形状・サイズ・材質 (2)取り扱い注意事項 納期 HALT／HASS試験とは. HALT (Highly Accelerated limit Test)は、製品に強いストレスをかけ壊れるまで試験することで、数日程度で製品の弱点を明らかにし、弱点を改善することで、結果的に信頼性の向上ができる定性的な加速試験方法です。. HASS (Highly Accelerated |jze| usj| nwz| nmk| ifw| xoc| ewn| rfw| oal| tlc| kde| lww| jvz| gng| pzg| kmi| gpb| dxp| eom| hya| enr| nbh| dji| dfh| kyk| zqx| pin| sbu| ajg| bzj| iai| vmw| wki| afy| bpf| smn| wxi| duo| cho| jog| saz| jqe| mhx| snr| hof| hnf| uiv| thl| vdd| wvg|