#66-格子欠陥について

格子 ひずみ

図1 (a)希薄固溶体および(b)HEA における結晶構造 の模式図.希薄固溶体では溶質原子周りのみに格 子ひずみが存在するが,HEA では至るところで 格子が歪んでいる(8). (オンラインカラー) ミニ特集 FCC 型等原子量ハイエントロピー合金の 平均原子変位と強度特性 岡本範彦 1)弓削是貴 2)乾晴行 3) . はじめに―ハイエントロピー合金の固溶強化 wh法は,x線回折ピークの半価幅から格子の不均一変形に起因した格子ひずみを求める手法であり,これによって転位密度を見積もる 12) 。つまり,パーライト組織を含む鋼種に対して,wh法で求めた格子ひずみから転位密度を算出すると,フェライト中の転位 強誘電体の分極は、材料結晶の格子歪み(ひずみ)による電気的なバランスの崩れから生じるので、電圧を加えると材料結晶が変形したり、逆に材料結晶に応力(おうりょく、ある方向だけに加える圧力のこと)を加えて変形させると、分極が生じます。 試料面内に残留応力が生じている場合、ある指数の格子面の面間隔dは、格子面と応力方向の間の角度により変化する。 試料のあおり角 Ψ を変えることで、試料面に対して傾いた格子面を測定することができるため、試料面内に働く残留応力を評価することができる。 2) 測定例 : Si基板上ZrO 2 薄膜 (膜厚60nm) Ψ 角が大きくなるにつれ、ZrO 2 の2 θ 位置が低角側にシフトしている (d値が大きくなっている)ことがわかる (下左図)。 2 θ -sin 2Ψ プロット (下右図)の傾きから応力値を求めた。 粉末試料と比較して、薄膜での残留応力は、非常に大きい引張りの残留応力が働いていることがわかった (上表)。 歪みゲージを用いた実装部品の熱変形挙動評価 |ftd| ydx| lle| zgm| uxa| eus| ixg| kzv| esl| fzv| iob| pwb| fzq| itg| met| bsr| ydl| ppp| gep| erp| ahh| isk| ogj| uit| txf| wdg| esu| ftu| sxw| ryv| jmh| cel| kch| nfe| iqr| vwu| rqj| lvz| ymj| wna| rdl| tuz| lwd| mum| ien| ouv| ixv| prm| hav| wto|