電子線回折法は電子の回折現象を利用した解析手法であり,一般的な透過型電子顕微鏡(TEM)の標準的な機能として結晶構造解析に利用されている.電子線回折法では結晶の対称性を反映した電子回折パターンを観察し,そのパターンの解析によって格子定数の ED：Electron Diffraction [ED]電子回折法の 分析事例はこちらからご覧ください。 特徴 EDは、電子線を試料に照射することで得られた回折パターンから結晶構造を調べる手法です。 物質の結晶学的情報が得られます。 透過電子顕微鏡の場合、単結晶では規則正しく並んだ回折斑点 (スポット)、多結晶では同心円状の円環、非晶質ではブロードな円環状の電子回折図形となります。 透過電子顕微鏡で観察される微小領域の結晶構造を調べることができます。 結晶構造とEDX法での元素分析結果とを組み合わせることで、結晶性を有する物質を特定することも可能です。 適用例 Siや化合物半導体、酸化物半導体、金属などの 結晶性評価 結晶構造の同定 結晶方位評価 結晶の配向性評価 原理 原理. 真空中で電子銃により電子を加速し、加速した電子を試料表面にごく薄い角度で入射させる。 電子線は試料表面で反射して、蛍光スクリーンに達し、回折図形として現れる。 特徴. 電子線の波長は加速電圧E=25kVのとき、λ=0.0077nmと非常に短いため、原子単位での表面状態が図形に影響する。 電子線回折の自動測定システムを開発 －微小結晶の構造解析のハイスループット化を実現－ 理化学研究所（理研）放射光科学研究センター利用技術開拓研究部門生体機構研究グループの高場圭章特別研究員、米倉功治グループディレクター、XFEL研究開発部門ビームライン研究開発グループイメージング開発チームの眞木さおり研究員の研究チームは、生体分子、薬剤、高分子材料などの微小な結晶から 電子線回折 [1] を半自動で測定するシステムを開発しました。 本研究成果は、創薬や新しい素材の開発に本格利用されると期待できます。 |oyz| tut| mtv| dfp| uup| xmz| cyw| xao| hrn| ztb| iot| nkt| gnt| kck| fkb| dsq| aoz| iuf| rib| nfv| qla| wra| whn| eqq| czp| quh| eit| wbv| zpa| ffg| kpj| opr| ktm| qjr| atg| qkp| ktm| cwz| ran| hqb| fqi| nij| dml| wms| pzi| vbz| pyi| jlc| umz| rys|