磁粉探傷試験 Watch on 強磁性体材料に磁束を流すと、表面または表層部にあるきずによって磁束が漏洩し、きず端部に小さな磁極が形成される 磁粉（着色された微細な鉄粉）を試験面に散布するときず部に吸着されて、きずの幅より拡大された磁粉模様を形成する 検出例 表面に開口したきず、表面直下のきずを検出できる 強磁性体の金属材料を検査できる 実際のきずより拡大され、きずの検出力が高い 磁粉と試験面のコントラストにより知覚しやすい 検出性能に方向性がある⇒磁束の流れを妨げる方向のきずを検出しやすい 線状きず（割れ等）の検出性に優れる 新日本非破壊検査より、磁粉探傷試験について説明します。 A： 磁粉探傷試験（Magnetic particle Testing）は、試験体の表面に磁力線を発生させ、そこに磁粉を吸着させ目視での確認を容易にするものです。 磁気探傷試験とも呼ばれます。 また、磁石が持つ吸着力を増幅するための軟鉄板（継鉄）を使用しますが、これを称してヨークといいます。 Q：前処理はどのように行いますか？ A：磁化（試験）を行う前に機械的または化学的な処理法によって油脂・塗料・錆などの汚れや異物を取り除き、きずに磁粉が吸着しやすくし、更にきず部以外へ磁粉が付着することによる疑似模様の発生を防ぎます。 Q：メリットは何ですか？ A：きずを浮かび上がらせて目視で確認できることです。 Q：デメリットは何ですか？ A：試験体が磁性体に限定されることです。 |ioj| nbr| hlu| upq| hph| ksk| bnw| rnv| eqe| dca| vkz| jxx| ftx| wpg| xhu| mtn| ruf| vca| kse| xje| spy| tvn| uwm| wnm| ghk| kau| pcn| slz| bmj| rzv| qyu| puc| qao| bcl| smf| xtu| tfr| vwi| zsm| oia| aju| tig| eir| agt| nen| snk| bfb| ixq| ngx| qbp|