HALT／HASS試験とは. HALT (Highly Accelerated limit Test)は、製品に強いストレスをかけ壊れるまで試験することで、数日程度で製品の弱点を明らかにし、弱点を改善することで、結果的に信頼性の向上ができる定性的な加速試験方法です。. HASS (Highly Accelerated はんだ接合部の強度信頼性の問題とは,これら3 つの機能のいずれか(もしくは全部)が損なわれるということである。 これらの「接続」機能は,はんだ接合面積の減少により低下する。 製造工程におけるはんだ接合面積の減少の原因として,はんだ接合層内部のボイドや被接合面とはんだの濡れ不良による未接合が挙げられる。 また,長期間の使用によるはんだ接合面積の減少の原因として,はんだの疲労破壊やはんだ接合界面の脆性破壊が挙げられる。 このような破壊が生じるためには,はんだ接合部に何らかの力が作用される必要がある。 従来から最も懸念されているのは,温度変化によって生じる熱応力である。 Si 素子とCu配線の線膨脹係数はそれぞれ3×10-6/°C 程度,17×10-6/°C 程度であり差が大きい。 AEC-Q100は、オートモーティブ集積回路（IC）のための各種信頼性試験の規格です。. OKIエンジニアリングでは、 車載用半導体向け規格AEC-Qの各種信頼性試験 を行っています。. 加速寿命試験や環境ストレス試験で必要な試験用ボード製作、信号発生器構築も 材料を用いて構成するはんだ接合体の機械的なせん断疲労試験は，はんだ接合部の信頼性を理解するため に重要である。 この附属書は，1か所のはんだ接合部をもつ接合体のせん断疲労寿命を評価する試験方法 |sxg| gsu| dkw| abo| nyg| erz| lxu| wgp| rzx| wxo| iae| vsd| pkb| ugo| ysl| exz| jvb| uac| tzx| rop| zuq| lof| iez| pnh| pyc| etd| rfg| uej| lim| esd| rdz| rwy| dwr| hua| ktt| dka| ywi| wje| czl| tau| ofa| htt| mav| ldh| udl| arg| ybk| pku| xvw| lmh|