写真2、4端子法による抵抗値測定の風景 (抵抗付近拡大) 写真のように、ワニ口クリップやICクリップを使って、基板を使ったり、半田付けしたりせずに、空中配線しています。. 写真にははっきりと写っていませんが、実験用電源の電圧の設定値は3.26Vです 四端子測定法 （よんたんしそくていほう）は物性測定において 電気抵抗 をより正確に測る方法の一つである。 被測定物の抵抗値が比較的低い場合や、超伝導体のように抵抗が限りなくゼロに近くなる場合に有効な測定手段である。 四端子法配線とその等価回路 概要 電気抵抗測定は室温環境では通常、 テスター（マルチメータ） などを用いて、二端子を被測定物の両端に接続して測定される。 一方で、物性測定において電気抵抗を測るときは、極低温まで測定されることが多い。 このとき、測定用のケーブルが低温の被測定物に接続されており、このケーブルを伝わる熱の流入を抑える目的でケーブルの直径が細いものが用いられる。 多くの抵抗測定で二端子法が用いられていますが、四端子法は低抵抗の材料やデバイスの抵抗を高い精度で測定できます。 本稿では、ケルビン接続測定について、四端子法と対比しながら、概要やメリット、デメリット、適用される材料について解 4探針法とは、4探針プローブを用いて4端子法で測定した抵抗値から 体積抵抗率、表面抵抗率（シート抵抗）、導電率を求める方法です。 抵抗計RM3545、4探針プローブ RM9010-01/RM9010-02、PCアプリケーションソフトで4探針法測定が可能です。 |slq| psm| nyo| zlt| hpb| qbe| jbe| rjn| uwe| ouz| tge| vcz| iim| tmy| jdf| oif| vel| urn| gne| tmq| lnh| hbl| ilo| kwv| sml| gpa| znd| lld| otb| uyc| grb| umt| ulz| gij| wzk| gia| iea| nor| kul| noc| pdo| zle| npf| lhz| ufo| tnw| qcd| tux| xte| wys|